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更新時間：2024-11-09
金屬高溫導(dǎo)熱系數(shù)測試儀 型號：DRJ-I該儀器采用試樣直接通電縱向熱流法，于80°～900℃溫度范圍內(nèi)測量金屬無相變溫度下的導(dǎo)熱系數(shù)，由計算機自動完成測試。滿足了材料檢測研究部門對金屬材料導(dǎo)熱系數(shù)的測試要求。儀器參考標(biāo)準(zhǔn)：GB/T3651-2008《金屬高溫導(dǎo)熱系數(shù)測量方法》。
金屬高溫導(dǎo)熱系數(shù)測試儀 型號：DRJ-I
該儀器采用試樣直接通電縱向熱流法，于80°～900℃溫度范圍內(nèi)測量金屬無相變溫度下的導(dǎo)熱系數(shù)，由計算機自動完成測試。滿足了材料檢測研究部門對金屬材料導(dǎo)熱系數(shù)的測試要求。儀器參考標(biāo)準(zhǔn)：GB/T3651-2008《金屬高溫導(dǎo)熱系數(shù)測量方法》。
金屬高溫導(dǎo)熱系數(shù)測試儀 主要技術(shù)指標(biāo)
1、 導(dǎo)熱系數(shù)測試范圍：5～400W/m·K；
2、 準(zhǔn)確度：優(yōu)于5%；
3、 對實驗溫度實現(xiàn)可控狀態(tài)下的測試，電爐高溫度1000℃；
4、 電源：220V，50HZ；
5、 連接上位機，實現(xiàn)計算機自動測試、實現(xiàn)數(shù)據(jù)打印輸出；
6、 試樣尺寸要求：棒狀試樣：Ф3-5×220（mm）
絲狀試樣：Ф1-3×20-45（mm）
 | 產(chǎn)品名稱：數(shù)字式四探針測試儀 產(chǎn)品型號：SZT-1 |
數(shù)字式四探針測試儀型號：SZT-1
SZT-1型數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理 的多用途綜合測量裝置。它可以測量片狀、快狀半導(dǎo)體材料徑向和軸向電阻率，測量片狀半導(dǎo)體材料的電阻率和擴散層的薄層電阻（方塊電阻），換上特制的四探針測試夾，還可以對金屬導(dǎo)體的低中值電阻進行測量。此外，探針經(jīng)過特殊加工后，還可以測量薄膜材料電阻率。廣泛于半導(dǎo)體材料、器件廠、高等院?；瘜W(xué)物理系、科研單位，對半導(dǎo)體材料的電阻性能測試。
本儀器測試探頭采用寶石導(dǎo)向軸套和高耐磨碳化鎢探針，定位準(zhǔn)確，游移率小，使用壽命長。
SZT-1型數(shù)字式四探針測試儀技術(shù)參數(shù)：
1． 測量范圍：
電阻率：10的-4次方~10的3 次方Ω-cm
方塊電阻：10的-3次方 ~10的4 次方Ω/□
電阻：10的-6次方 ~10的5 次方Ω
導(dǎo)電類型鑒別：電阻率范圍 10的-4 次方~10 的3次方Ω—cm
2． 可測半導(dǎo)體材料尺寸
直徑：φ15~100 mm
長度：≤400mm
3． 測量方法：
軸向、斷面均可
4． 顯示方式：31/2,數(shù)顯,性、過載自動顯示，小數(shù)點、單位自動顯示。
5． 恒流源：
（1） 電流輸出：直流電流0~100 mA連續(xù)可調(diào)。
（2） 量程：10、100μA、1、10、100mA
（3） 誤差：±0.5%讀數(shù)±2個字
6.四探針測試探頭
(1) 探針間距:1mm
(2) 材料:碳化鎢.探針機械游移率:±1.0%
7.電源:220±10% 50Hz或60Hz 功耗:＜35W
便攜式聲波測厚儀 聲波測厚儀 型號：TT340 |
